高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動態(tài)光散射(DLS)和激光多普勒電泳(LDE)技術,提供高分辨率,和快速的粒度和zeta電位測試和遠程原位測試。
法國Cordouan 生產的Vasco kin在線納米粒度儀用于復雜介質中納米顆粒的粒度表征,其性能遠優(yōu)于目前市面上流行的動態(tài)光散射法納米粒度儀。經過短短四年的發(fā)展,Cordouan Technologies 構建的表征納米和納米材料的創(chuàng)新解決方案已經成為 N3 世界(納米顆粒、納米材料、納米技術)的參考標準,用于粒度測定
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