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微區(qū)電化學(xué)掃描材料腐蝕的電化學(xué)測試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測試,測試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。近年來，人們一直在探索局部電化學(xué)過程的研究。一代掃描參比電極技術(shù)能探測局部腐蝕的發(fā)生。第二代掃描振動電極技術(shù)采用振動電極測量局部隨遠(yuǎn)離被測電極表面位置的變化。SVET具有比SRET更高的靈敏度。在SVET和SVET基礎(chǔ)上，又提出了采用掃描...

圖像粒度儀主要的核心技術(shù)之一是顆粒圖像的二值化處理。數(shù)字?jǐn)z像機(jī)拍攝的顆粒圖像是由不同灰度的像素點(diǎn)陣構(gòu)成的。為獲得真實(shí)準(zhǔn)確的顆粒輪廓圖像，需要對圖像進(jìn)行二值化處理。將原始圖像轉(zhuǎn)化為顆粒輪廓邊緣閉合且不改變大小的黑白圖像。圖像的二值化處理就是將圖像上的點(diǎn)的灰度置為0或255，也就是將整個(gè)圖像呈現(xiàn)出明顯的黑白效果。即將256個(gè)亮度等級的灰度圖像通過適當(dāng)?shù)拈撝颠x取而獲得仍然可以反映圖像整體和局部特征的二值化圖像。在數(shù)字圖像處理中，二值圖像占有非常重要的地位，特別是在實(shí)用的圖像處理中，...

物理吸附儀因其較好的技術(shù)原理備受各個(gè)公司的青睞，其使用的容量法技術(shù)引入一定量的已知?dú)怏w(吸附劑)到含有待測樣品的分析室中，當(dāng)樣品與吸附氣體達(dá)到平衡時(shí)，記錄平衡壓力。這些數(shù)據(jù)用來計(jì)算樣品吸附氣體的量。物理吸附儀對各個(gè)行業(yè)材料的具體應(yīng)用：1.科學(xué)材料使用該產(chǎn)品能夠快速并準(zhǔn)確地確定材料的疏水性和對其他蒸汽的親和性。重量分析方法是目前比較流行的方法，但因?yàn)橹亓糠ㄐ枰d氣，所以被吸附物質(zhì)的擴(kuò)散受到了載氣存在的限制，需要至少幾天甚至是幾周才能得到結(jié)果。與重量法不同，產(chǎn)品能夠在很短的時(shí)間內(nèi)...

混凝土流變儀不僅可以測量模量和粘度，還可以測量聚合物的熱轉(zhuǎn)變，包括玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg)，該溫度是區(qū)分半結(jié)晶聚合物的玻璃態(tài)和橡膠態(tài)的溫度。在典型的儲能模量與溫度之間的關(guān)系圖中，還經(jīng)常可以看到亞Tg躍遷，該躍遷反映了分子振動的順序，即鍵彎曲和拉伸以及側(cè)基運(yùn)動。它們不如Tg突出，因?yàn)樗鼈兣c模量的較小變化有關(guān)?；炷亮髯儍x工作原理：配有不同參數(shù)的螺桿，在具有一定溫度的圓筒內(nèi)旋轉(zhuǎn)，筒的另端設(shè)有送料斗。當(dāng)原料被送至筒的2/3處時(shí)逐步增塑，進(jìn)入到筒的剩余部分內(nèi)被均化，當(dāng)所有顆粒全部溶化后...

測量方法:目前bai測量Zeta電位du的方法主要有電泳法、zhi電滲法、流動電位法dao以及超聲波法zhuan,其中shu以電泳法應(yīng)用廣。Zeta電位的重要意義在于它的數(shù)值與膠態(tài)分散的穩(wěn)定性相關(guān)。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量。分子或分散粒子越小，Zeta電位（正或負(fù)）越高，體系越穩(wěn)定，即溶解或分散可以抵抗聚集。反之，Zeta電位（正或負(fù)）越低，越傾向于凝結(jié)或凝聚，即吸引力超過了排斥力，分散被破壞而發(fā)生凝結(jié)或凝聚。Zeta電位與體系穩(wěn)定性之間的大致關(guān)系...

Zeta電位分析儀是一種創(chuàng)新的zeta電位分析儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*且的測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補(bǔ)充，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成，實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì)，與其它同類產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量...

納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀，其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復(fù)及測試準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測試的產(chǎn)品。原理先進(jìn)的測試原理：本儀器采用動態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中布朗運(yùn)動的速度測定顆粒大小。具有原理先進(jìn)、精度*的特點(diǎn)，從而保證了測試結(jié)果的真實(shí)性和有效性。高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業(yè)級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具...

原理光是橫電磁波，是一種在各個(gè)方向上振動的射線。其電場矢量E與磁場矢量H相互垂直，且與光波傳播方向垂直。由于產(chǎn)生感光作用的主要是電場矢量，一般就將電場矢量作為光波的振動矢量。光波電場矢量與傳播方向所組成的平面稱為光波的振動面。若此振動面不隨時(shí)間變化，這束光就稱為平面偏振光，其振動面即稱為偏振面。平面偏振光可分解為振幅、頻率相同，旋轉(zhuǎn)方向相反的兩圓偏振光。其中電矢量以順時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)的稱為右旋圓偏振光，其中以逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)的稱為左旋圓偏振光。兩束振幅、頻率相同，旋轉(zhuǎn)方向相反的偏振...