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簡要描述:固體孔隙率測定儀包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料。
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美國分散科技公司(DTI)專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù).DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、孔隙率、包括CMP漿料,納米分散體系、陶瓷漿料,電池漿料,水泥家族,藥物乳劑等,并可應(yīng)用于多孔固體。
利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時,聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測量顆粒粒度及濃度,采用多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta電位。對于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測量。
傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理,既費時又容易出錯,而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問題。超聲探頭(Zeta Probe)能直接在樣品的原始條件下測量zeta電位,允許樣品濃度高達(dá)50%(體積)。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動滴定裝置可自動、快速地判斷等電點,可快速得到很好分散劑和絮凝劑。對粒度和雙電層失真進(jìn)行自動校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。
固體孔隙率測定儀
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